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一种提高二次离子质谱仪样品腔真空度的全自动控制装置 专利
专利号: ZL201610978411.7, 申请日期: 2016-11-07, 公开日期: 2017-04-19
作者:  张万峰;  夏小平;  杨晴;  刘铭亮;  熊伯琴;  张彦强
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